Messen & Charakterisieren

Höchste Chip-Performance dank modernster Analysemethoden

Mit unserer hochmodernen Messtechnik, langjähriger Erfahrung und der kontinuierlichen Integration wissenschaftlicher Erkenntnisse bieten wir umfassende Mess- und Charakterisierungsmöglichkeiten an. Damit unterstützen wir sowohl die effiziente Entwicklung und Optimierung Ihrer Chips als auch die Erforschung gezielt auf die jeweilige Anwendung abgestimmter Innovationen in der Terahertzsensorik – für mehr Leistungsfähigkeit, Qualität und Zuverlässigkeit.

Entwicklung und Charakterisierung von Terahertzsensorik: Wafermessung unter dem Mikroskop mit elektrischen Präzisionssonden im Reinraum. Development and characterization of terahertz sensing: Wafer measurement under a microscope with precision electrical probes in a cleanroom.

Wafer-Messung unter dem Mikroskop. © Fraunhofer FHR

Ihre Vorteile auf einen Blick

Ganzheitliche Tests: Von der On-Wafer- bis zur Systemcharakterisierung

Höchste Präzision: Messungen bis 500 GHz

Schnelle Optimierung: Frühzeitige Erkennung und Beseitigung von Schwachstellen

Flexibilität: Maßgeschneiderte Messaufbauten für Hochfrequenz- und Photoniksysteme

Industrienähe: Verlässliche Daten für Prototypen, Vorserien und Serienfertigung

Unsere Messkompetenz im Überblick

Wir analysieren bestehende Systeme sowie Neuentwicklungen bis ins Detail – von der On-Wafer- und On-Chip-Charakterisierung über Antennenmessungen im Freiraum bis hin zur Validierung unter realen Einsatzbedingungen. Die Ergebnisse fließen zurück in unsere Forschung und dienen der stetigen Verbesserung der Performance innovativer Systeme.

Photonik-Charakterisierung

Präzise Charakterisierung integrierter optischer Schaltungen im Wellenlängenbereich 1510–1640 nm
Einsatz modernster Messmittel: Polarimeter, Soleil-Babinet-Kompensatoren, Lock-in-Verstärker sowie rauscharme Spannungs- und Stromverstärker

Hochfrequenz-Charakterisierung

Analyse integrierter Hochfrequenz-Schaltungen: Verstärker, Koppler, Dämpfungsglieder und passive Bauelemente
Materialcharakterisierung von Dielektrika
Detaillierte Signal- und Spektralanalyse: Rauschverhalten, Frequenzgang, Signalverzerrung – flexibel über unterschiedliche Frequenzbereiche und Betriebstemperaturen

On-Wafer-Messtechnik – präzise und flexibel

Vektorielle 4-Tor-Netzwerkanalyse: Von Quasi-DC (70 kHz) bis 145 GHz in einem Setup
Hohlleiterbegrenzte 2-Tor-Systeme für die vektorielle Netzwerkanalyse:
- W-Band (WR10): 75–110 GHz
- D-Band (WR6.5): 110–170 GHz
- WR2.2-Band: 325–500 GHz
Signal- und Spektralanalyse: Direkte Messungen bis 110 GHz, mit Vorsatzmischern erweiterbar bis 500 GHz
In-situ-Charakterisierung gebondeter Chips via Netzwerkanalyse bis 500 GHz
Rauschmessungen von 10 MHz bis 67 GHz
Nicht-invasive Antennenmuster-Messungen integrierter mm-Wellenantennen durch sphärische Nahfeldmessungen (SNF) – hochpräzise, fehlerkompensiert und ohne invasive Steckverbindungen
Flexible Betriebstemperaturen: Standard -10 °C bis +125 °C, erweiterbar bis -40 °C; Cryo-Messtechnik bis 4 K für On-Chip- und Modul-Charakterisierung

Reflexionsfreie Antennenmesskammer

Spektral- und Netzwerkanalyse bis 500 GHz
Zeitbereichsmessungen von Mehrkanalsystemen bis 65 GHz
Kanalmessungen drahtloser Systeme
Materialcharakterisierung: zerstörungsfreie Prüfverfahren für Forschung und Qualitätssicherung

Terahertzsensorik: Feldmesstechnik-Antennenarray mit zahlreichen Koaxialkabeln in einer elektromagnetisch abgeschirmten Kammer. Terahertz sensing: Field measurement antenna array with numerous coaxial cables inside an electromagnetically shielded chamber.

Typische Anwendungen

Optimierung integrierter Hochfrequenz- und Photonikschaltungen

Validierung von Prototypen und Vorserienmodulen unter realen Bedingungen

Antennenmessungen für Radar- und Kommunikationssysteme

Materialcharakterisierung für Forschung und industrielle Qualitätssicherung

Systemtests für komplexe Sensorlösungen im Terahertz-Bereich

Optimieren Sie Ihre Chips und Systeme mit uns

Mit unseren Mess- und Charakterisierungsdienstleistungen gewinnen Sie verlässliche Daten und präzise Einblicke in das Verhalten Ihrer integrierten Hochfrequenz- und Photonikschaltungen. Diese fundierten Erkenntnisse tragen nicht nur zur Sicherstellung höchster Qualität bei, sondern fördern auch die Forschung und Entwicklung innovativer Lösungen – von Prototypen bis zur Kleinserie. So unterstützen wir gemeinsam die Schaffung effizienter und nachhaltiger Technologien.